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什么是AEC-Q200-004？

AEC-Q200-004_自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序，該規(guī)范涵蓋了基于具有正電阻溫度系數(shù)的聚合材料的自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的測(cè)試和測(cè)量方法。它的目的是為此類組件的用戶提供方法，將基于聚合正溫度系數(shù) (PPTC) 的自恢復(fù)保險(xiǎn)絲與根據(jù)既定測(cè)試方法測(cè)試的既定標(biāo)準(zhǔn)性能要求進(jìn)行比較。該方法提供了執(zhí)行 AEC-Q200 表 14 中描述的測(cè)試所需的補(bǔ)充信息。

AEC-Q200-004_自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序

AEC-Q200-004-001 電阻測(cè)量

注意：自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的電阻本質(zhì)上對(duì)溫度很敏感。用于測(cè)量 PolySwitch 器件電阻的儀器必須盡量減少測(cè)試樣品的加熱。建議使用鑷子或等效物處理設(shè)備，以盡量減少由于手指或手溫度升高而對(duì)電阻測(cè)量的影響。設(shè)備應(yīng)放置在進(jìn)行測(cè)量的位置，并留出足夠的時(shí)間使設(shè)備達(dá)到測(cè)量溫度。

準(zhǔn)確度：至少1%

用途：涵蓋了用于在設(shè)備處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)測(cè)量 PolySwitch 設(shè)備電阻的方法。

AEC-Q200-004-002 跳閘時(shí)間測(cè)量

測(cè)試順序：跳閘時(shí)間測(cè)試應(yīng)在電阻測(cè)量后進(jìn)行。在跳閘時(shí)間測(cè)試之前，設(shè)備在制造、焊接或壓力測(cè)試后不應(yīng)經(jīng)歷任何跳閘事件，以最近的事件為準(zhǔn)。

準(zhǔn)確度（電壓或電流）：至少±2%

目的：驗(yàn)證測(cè)試樣本是否會(huì)在指定的電流下在指定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)跳閘。

AEC-Q200-004-003 保持電流測(cè)量

測(cè)試順序：保持電流評(píng)估測(cè)試應(yīng)在最近一次跳閘事件后至少一小時(shí)，但不超過(guò)三小時(shí)進(jìn)行。在大多數(shù)情況下，此跳閘事件將是一次跳閘時(shí)間評(píng)估測(cè)試。

準(zhǔn)確度（電壓或電流）：至少±1%

目的：驗(yàn)證測(cè)試樣本是否會(huì)通過(guò)指定的電流而不會(huì)跳閘。

AEC-Q200-004-004 跳閘電流測(cè)量

測(cè)試順序：跳閘電流評(píng)估測(cè)試應(yīng)在未跳閘的設(shè)備上進(jìn)行。如果在測(cè)試夾具上進(jìn)行測(cè)試需要加熱過(guò)程，例如焊接，則在測(cè)試跳閘電流之前，設(shè)備應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)房間條件下至少調(diào)節(jié) 24 小時(shí)。

準(zhǔn)確度（電壓或電流）：至少 2%

目的：驗(yàn)證測(cè)試樣本是否會(huì)在指定電流下跳閘。

AEC-Q200-004-005 功耗測(cè)量

測(cè)試順序：功率耗散測(cè)量應(yīng)在跳閘狀態(tài)的設(shè)備上進(jìn)行。一旦測(cè)試樣品達(dá)到跳閘狀態(tài)，測(cè)量器件兩端的電壓和通過(guò)器件的電流。功耗可以通過(guò)電壓和電流測(cè)量值計(jì)算。

準(zhǔn)確度（電壓或電流）：至少±2%

目的：確定設(shè)備在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境中穩(wěn)定在跳閘狀態(tài)后消耗的功率量。

AEC-Q200-004是無(wú)源器件AEC-Q200認(rèn)證的測(cè)試規(guī)范之一，剪切力、短路故障電流耐久性、故障電流耐久性、壽命終止模式驗(yàn)證、快速啟動(dòng)耐力、甩負(fù)荷耐久性這些AEC-Q200測(cè)試項(xiàng)目都依據(jù)AEC-Q200-004規(guī)范進(jìn)行測(cè)試。

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