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電子元器件可靠性測(cè)試項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2022-08-18 瀏覽數(shù)量：

電子元器件可靠性測(cè)試項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)


電子元器件可靠性測(cè)試是為了評(píng)估電子元器件在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。電子元器件可靠性測(cè)試項(xiàng)目分為三類：電氣性能測(cè)試、零部件環(huán)境可靠性、零部件機(jī)械類可靠性。


電子元器件可靠性測(cè)試項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

1、電氣性能測(cè)試

擊穿電壓、介電強(qiáng)度

參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002


介電常數(shù)、介質(zhì)損耗

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11


體積電阻率、 表面電阻率

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14


耐電壓

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20C


接觸電阻

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06C


絕緣電阻

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21C


溫升

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-70B


2、零部件環(huán)境可靠性

鹽霧試驗(yàn) | 防塵防水試驗(yàn)/IP等級(jí) | 高溫試驗(yàn) | UV紫外光老化試驗(yàn) | 冷熱沖擊試驗(yàn) | 快速溫度變化試驗(yàn) | 交變濕熱試驗(yàn) | 恒溫恒濕試驗(yàn) | 氣體腐蝕試驗(yàn) | 低氣壓試驗(yàn) | 臭氧測(cè)試 | 高壓蒸煮（HAST） | 氙燈老化/太陽(yáng)輻射


3、零部件機(jī)械類可靠性

跌落試驗(yàn) | 振動(dòng)試驗(yàn) | 沖擊和撞擊試驗(yàn) | 插拔力測(cè)試 | 加速壽命試驗(yàn) HALT/HASS試驗(yàn) | 碰撞試驗(yàn) | 三綜合試驗(yàn)


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