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被動元器件AEC-Q200認證需要做哪些可靠性測試?

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2023-04-11 瀏覽數(shù)量:

被動元器件又稱為無源器件,是指不影響信號基本特征,僅令訊號通過而未加以更改的電路元件,最常見的有電阻、電容、電感、陶振、晶振、變壓器等。被動元件,區(qū)別于主動元件。而國內(nèi)此前則稱無源器件和有源器件。被動元件內(nèi)無需電源驅(qū)動且自身不耗電,僅通過輸入信號即可作出放大,震蕩和計算的反應(yīng),而不需要外加激勵單元。各類電子產(chǎn)品都包含被動元件,被動元件為電子電路產(chǎn)業(yè)之基石。被動元器件應(yīng)用到汽車電子領(lǐng)域需要通過AEC-Q200認證,接下來優(yōu)科實驗室將與大家分享被動元器件AEC-Q200認證需要做哪些可靠性測試?


被動元件AEC-Q200認證-1.jpg


被動元器件AEC-Q200認證可靠性測試項目

AEC-Q200測試是對元器件品質(zhì)與可靠度的認可。近年來車載設(shè)備越來越多,對車用元件高可靠性的要求也越來越苛刻,每個部件都關(guān)系到汽車駕駛員及乘客的安全,因此選用優(yōu)質(zhì)元器件非常關(guān)鍵。下面介紹一下AEC-Q200中常用的可靠性檢測項目。


板彎曲測試

測試類型:板彎曲測試

測試要求:無明顯的外觀缺陷。

參考標準:AEC-Q200-005 (Sample Size:30 PCS )

測試方法:該儀器包括機械裝置,它可以應(yīng)用利用線路板彎曲的力至少為Dx=2mm或根據(jù)用戶規(guī)格或Q200所定義的力。施加外力應(yīng)持續(xù)60+5秒鐘,僅向線路板施加1次外力。


AEC-Q200認證板彎曲測試.jpg


貼片器件端子強度測試

測試類型:端子強度測試

測試要求:無明顯的外觀缺陷。

參考標準:AEC-Q200-006

測試方法:施加一個17.7N(1.8kg)的力到測試器件的側(cè)面,此外力的施加時間為60+1秒。


貼片器件端子強度測試.jpg


引腳器件端子強度測試

測試類型:端子強度測試

測試要求:無明顯的外觀缺陷。

參考標準:MIL-STD-202 Method 211

測試方法:只進行引腳器件的引腳牢固性測試。條件A(910克);C(1.13公 斤);E(1.45公斤-mm)。


高溫儲存試驗

測試類型:高溫儲存試驗

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-STD-202G Method 108

測試方法:溫度: N℃ (N:依據(jù)產(chǎn)品規(guī)格設(shè)定)

在額定工作溫度下放置器件1000 小時.例如:125℃的產(chǎn)品可以在 125℃下存儲1000 小時,同樣地也適用于105℃和85℃的產(chǎn)品不通電。試驗結(jié)束后24±4 小時內(nèi)進行測試。


AEC-Q200認證高溫儲存試驗.jpg


溫度循環(huán)試驗

測試類型:溫度循環(huán)試驗

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:JESD22 Method JA-104

測試方法:溫度:N°C(N:依據(jù)產(chǎn)品規(guī)格設(shè)定)

1000個循環(huán)(-40°C到125°C)。注意:85°C或105°C的產(chǎn)品,1000個循環(huán)應(yīng)在其溫度等級下進行。實驗完成24±4個小時后,再進行實驗。每種溫度的停留時間不超過30分鐘,轉(zhuǎn)換時間不超過1分鐘。


AEC-Q200認證溫度循環(huán)試驗.jpg


高溫高濕試驗

測試類型:高溫高濕試驗

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-STD-202G Method 103

測試方法:在85°C/濕85%的環(huán)境中放置1000小時不通電。試驗結(jié)束 后24±4 小時內(nèi)進行測試。


AEC-Q200認證高溫高濕試驗.jpg


工作壽命試驗

測試類型:工作壽命試驗

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-PRF-27

測試方法:1000小時105°C,如產(chǎn)品溫度為125°C或155°C,應(yīng)在其溫度下進行,試驗結(jié)束后24±4小時,進行試驗。


機械沖擊試驗

測試類型:機械沖擊試驗

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-STD-202Method 213

測試方法:條件C:半正弦波、峰值加速度:100g.s;脈沖時間:6ms;采用半正弦波形,最大速度變化12.3英尺/秒。


振動測試

測試類型:振動測試

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-STD-202 Method 204

測試方法:測試頻率從10HZ 到2000HZ, 5g 的力20 分鐘為一循環(huán), XYZ 每個方向各12 循環(huán)。


AEC-Q200認證振動測試.jpg

焊錫耐熱測試

測試類型:焊錫耐熱測試

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:MIL-STD-202Method 210

測試方法:

插件類:

樣品不進行預熱,在溫度260℃的條件下浸入本體1.5mm的深度10秒(260+0/-5℃)。

貼片類:

- 參考如下圖中的回流焊曲線,經(jīng)過兩次;

- 峰值溫度:260+0/-5°C。


AEC-Q200認證焊錫耐熱測試.jpg


可焊性測試

測試類型:可焊性測試

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:IPC J-STD-002D

測試方法:

- 蒸汽老化8 小時 (93℃);

- 于245℃±5℃的溫度下焊錫5s


耐溶劑試驗

測試類型:耐溶劑試驗

測試要求:無明顯的外觀缺陷。

參考標準:MIL-STD- 202 Method 215

注意:增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑或其它相同的溶劑,不要使用禁止的溶劑。


電氣特性測試

測試類型:電氣特性測試

測試要求:

- 無明顯的外觀缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

參考標準:User Spec.


上面是對被動元器件AEC-Q200認證需要做的可靠性測試項目的介紹,優(yōu)科實驗室在半導體被動組件領(lǐng)域擁有廣泛的能力和資質(zhì),目前已幫助多家電容、電感、變壓器、晶振業(yè)者、被動組件廠通過AEC-Q200認證,以差異性的高附加值服務(wù),最短的項目交付時間滿足被動組件產(chǎn)品相關(guān)的各類測試、檢驗、認證和保障的需求。


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