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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2023-06-12 瀏覽數(shù)量:
電子元器件是確保電子設(shè)備高度可靠的基本組成部分。元器件的可靠性包括固有可靠性和使用可靠性兩個方面。固有可靠性是可靠性的基礎(chǔ),而使用可靠性指的是元器件在工作條件、環(huán)境條件和人為因素等方面引發(fā)的可靠性問題。通過進(jìn)行元器件的二次篩選,可以有效剔除具有缺陷的元器件,避免使用這些缺陷元器件,從而有效提高產(chǎn)品的使用可靠性。
由于元器件存在缺陷是難以避免的,我們應(yīng)該采取一系列非破壞性的篩選試驗,施加合理的應(yīng)力,剔除具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品,使其在浴盆曲線的早期失效階段得以排除。因此,在整個產(chǎn)品壽命周期中,必須采取積極主動的工藝手段,對產(chǎn)品施加適當(dāng)應(yīng)力,使?jié)撛谌毕莸靡约ぐl(fā),問題提前暴露,從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。盡管可靠性篩選不能提高元器件個體的固有可靠性水平,但通過發(fā)現(xiàn)設(shè)計和制造方面引起的缺陷,并將其反饋到設(shè)計和生產(chǎn)的質(zhì)量控制中,可以采取糾正措施,真正提高產(chǎn)品的可靠性。
電子元器件的二次篩選質(zhì)量直接影響型號產(chǎn)品的質(zhì)量。目前,由于同一種器件在不同型號的產(chǎn)品中具有不同的篩選要求,且送篩器件的批次和數(shù)量往往無法滿足產(chǎn)品要求的時間進(jìn)度。此外,由于篩選技術(shù)的局限性,仍然無法達(dá)到將早期失效的元器件完全剔除的理想目標(biāo)。因此,提高元器件篩選質(zhì)量和效率成為元器件篩選工作的主要目標(biāo)。
二次篩選針對不同失效模式進(jìn)行試驗,以剔除不合格的元器件,或由于某種缺陷可能導(dǎo)致早期失效的元器件。通過二次篩選不能提高元器件個體的固有可靠性水平,但可以通過剔除不合格品來改善批次的固有可靠性水平。在相同環(huán)境類別下,相同環(huán)境下的產(chǎn)品的元器件篩選要求可以統(tǒng)一,因為相同環(huán)境下同一類器件的環(huán)境系數(shù)是相同的。因此,可以制定相同環(huán)境下的產(chǎn)品的統(tǒng)一篩選要求,以提高元器件篩選質(zhì)量和效率。
二次篩選工作中的試驗和應(yīng)力選擇是根據(jù)產(chǎn)品的使用要求制定的,篩選要求既不能過于嚴(yán)格也不能過于寬松。過于嚴(yán)格的篩選要求會將原本滿足產(chǎn)品使用要求的元器件淘汰,增加篩選成本和元器件的使用成本。在某些情況下,可能會對元器件造成損壞,進(jìn)而引發(fā)更多質(zhì)量隱患。而過于寬松的篩選條件則可能導(dǎo)致不滿足產(chǎn)品要求的元器件通過篩選,從而影響產(chǎn)品的可靠性。因此,必須制定適合的篩選應(yīng)力條件,這將直接影響產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性。
二次篩選的作用僅限于改善元器件批次的質(zhì)量。因此,已確定滿足整機要求的元器件應(yīng)盡量避免進(jìn)行電應(yīng)力、機械應(yīng)力和熱應(yīng)力的篩選項目,只進(jìn)行一些必要的檢查和測試項目。例如,符合我國軍用電子元器件合格產(chǎn)品目錄和合格制造商目錄的元器件,其篩選項目和應(yīng)力條件應(yīng)滿足產(chǎn)品要求,無需進(jìn)行二次篩選。對于貼片元器件的封裝形式一般為盤封,主要用于表面貼裝生產(chǎn)線,篩選后可能會影響焊接質(zhì)量和可靠性,因此不適宜進(jìn)行二次篩選。另外,還可以根據(jù)產(chǎn)品的用途有選擇性地進(jìn)行篩選,如考核抗幅照能力等。對于航天電子設(shè)備,這是必須考慮的因素,而對于地面電子設(shè)備,基本上可以不考慮。
在進(jìn)行電子元器件的二次篩選時,還需要注意不當(dāng)?shù)牟僮骱头雷o(hù)可能導(dǎo)致電子元器件的潛在問題或直接導(dǎo)致失效。因此,在二次篩選檢測和測試中,需要注意環(huán)境保護(hù)、操作和靜電防護(hù)等方面,以確保電子元器件的可靠性。篩選時選擇的應(yīng)力應(yīng)確保不會對正常元器件造成損壞、損傷或明顯縮短其使用壽命。此外,二次篩選試驗的溫度不得超過被試元器件詳細(xì)規(guī)范中規(guī)定的極限溫度(包括正極限溫度和負(fù)極限溫度),以防止因元器件的封裝材料、結(jié)構(gòu)等原因無法達(dá)到試驗項目中規(guī)定的溫度要求而損壞元器件。原則上,過應(yīng)力條件篩選的元器件不得用于裝機。
測試順序的安排應(yīng)使后續(xù)參數(shù)能夠檢查在前面參數(shù)測試后可能出現(xiàn)的變化。對于要求耐電壓和絕緣電阻測試的元器件,應(yīng)先進(jìn)行耐壓測試,然后進(jìn)行絕緣測試,最后進(jìn)行功能參數(shù)測試。對于要求擊穿電壓和漏電流測試的元器件,應(yīng)先進(jìn)行擊穿電壓測試,然后進(jìn)行漏電流測試,最后進(jìn)行功能參數(shù)測試。遞減失效率函數(shù)的元器件適合進(jìn)行篩選,但并非所有適合篩選的元器件都滿足此條件。隨著電子元器件小型化的發(fā)展,我們還應(yīng)不斷擴展和研究控制元器件質(zhì)量的新篩選方法,為整機產(chǎn)品使用的電子元器件的可靠性提供可靠的保障。
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