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隨著汽車電子技術(shù)的快速發(fā)展，元器件的品質(zhì)與可靠性要求日益提升。AEC-Q200認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)為汽車被動(dòng)元器件的品質(zhì)和可靠性提供了統(tǒng)一的測(cè)試規(guī)范。本文將詳細(xì)介紹多層壓敏電阻器在AEC-Q200認(rèn)證中的三個(gè)關(guān)鍵測(cè)試：可焊性、板彎曲和端子強(qiáng)度。

可焊性測(cè)試（Solderability）試驗(yàn)信息

- 樣品數(shù)量：15 pcs * 1 lot

- 參考方法：EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E

- 預(yù)處理：蒸汽老化93℃/ 8 h；烘烤100℃/ 1 h

- 焊錫溫度：260℃

- 電測(cè)節(jié)點(diǎn)：不適用

- 合格判據(jù)：在任何一個(gè)引腳的關(guān)鍵表面區(qū)域中，至少有95%的連續(xù)焊料涂層沒有缺陷

可焊性測(cè)試是評(píng)估壓敏電阻器引腳或焊盤在焊接過程中的潤(rùn)濕能力。通過蒸汽老化和高溫烘烤進(jìn)行預(yù)處理后，樣品在260℃的焊錫中進(jìn)行焊接測(cè)試，確保至少95%的焊接表面無缺陷。

板彎曲測(cè)試（Board Flex）試驗(yàn)信息

- 樣品數(shù)量：30 pcs * 1 lot

- 參考方法：AEC-Q200-005 REV A (June 1, 2010)

- 預(yù)處理：安裝在FR4 PCB板上

- PCB尺寸：100mm × 40mm ×（1.6 ± 0.2）mm（厚度）

- 施力工具：半徑為340mm，寬為20mm

- 試驗(yàn)監(jiān)測(cè)：電壓檢測(cè)

- 形變距離：≥ 2 mm

- 保持時(shí)間：60（+5）s

- 電測(cè)節(jié)點(diǎn)：初測(cè) / 終測(cè)

- 合格判據(jù)：由客戶提供并確認(rèn)，一般是電測(cè)數(shù)值范圍及外觀檢查

板彎曲測(cè)試旨在評(píng)估壓敏電阻器在PCB板彎曲時(shí)的性能穩(wěn)定性。樣品安裝在指定尺寸的FR4 PCB板上，通過施加特定的彎曲力進(jìn)行測(cè)試，確保其在形變過程中電氣性能和外觀無異常。

端子強(qiáng)度測(cè)試（Terminal Strength (SMD)）試驗(yàn)信息

- 樣品數(shù)量：30 pcs * 1 lot

- 參考方法：AEC-Q200-006 REV A (June 1, 2010)

- 預(yù)處理：安裝在使用1盎司的銅，0.062英寸厚的FR-4 PCB上

- 施加推力：17.7 N

- 保持時(shí)間：60 (+1) s

- 電測(cè)節(jié)點(diǎn)：初測(cè)/終測(cè)

- 合格判據(jù)：由客戶提供并確認(rèn)，一般是電測(cè)數(shù)值范圍及外觀檢查

端子強(qiáng)度測(cè)試用于評(píng)估壓敏電阻器表面貼裝元件（SMD）的引腳強(qiáng)度。通過在預(yù)處理后的樣品上施加17.7 N的推力并保持60秒，確保其端子在受力條件下不出現(xiàn)損壞，電氣性能穩(wěn)定。

電氣特性測(cè)試（Electrical Characterization）試驗(yàn)信息

- 樣品數(shù)量：30 pcs * 3 lot

- 參考方法：依據(jù)規(guī)格書

- 試驗(yàn)溫度：低溫/室溫/高溫

- 合格判據(jù)：由客戶提供并確認(rèn)，一般是電測(cè)數(shù)值范圍及外觀檢查

電氣特性測(cè)試主要評(píng)估壓敏電阻器在不同溫度條件下的性能。通過在低溫、室溫和高溫環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試，確保元器件的電氣性能符合規(guī)格書要求。

通過嚴(yán)格的可焊性、板彎曲和端子強(qiáng)度測(cè)試，AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)確保了壓敏電阻器在汽車電子系統(tǒng)中的高可靠性和高性能。這些測(cè)試不僅驗(yàn)證了元器件在極端條件下的穩(wěn)定性，還為汽車行業(yè)的安全與發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)保障。了解并遵循AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)，是提升汽車電子元器件品質(zhì)和可靠性的關(guān)鍵步驟。