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二次篩選是提高元器件批質(zhì)量的有效措施之一，通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)碾娮釉骷魏Y選流程激發(fā)電子元器件潛在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)缺陷，有效剔除早期失效產(chǎn)品，提高整機(jī)系統(tǒng)的可靠性，為產(chǎn)品研制提供堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。優(yōu)科檢測(cè)是資質(zhì)齊全的專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，接下來(lái)為大家介紹下元器件二次篩選標(biāo)準(zhǔn)。

元器件二次篩選標(biāo)準(zhǔn)

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級(jí)的薄膜固定電阻器總規(guī)范》

GJB 2828-1997 《功率型線繞固定電阻器總規(guī)范》

GJB 3015-1997 《有可靠性指標(biāo)的非線繞預(yù)調(diào)電位器總規(guī)范》

GJB 920A-2002 《膜固定電阻網(wǎng)絡(luò),膜固定電阻和陶瓷電容器的阻容網(wǎng)絡(luò)通用規(guī)范》

GJB 1432B-2009 《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》

GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》

GJB 191B-2009 《含宇航級(jí)云母固定電容器通用規(guī)范》

GJB 63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》

GJB 2283A-2014 《片式固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)》

GJB 733B-2015 《有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范》

GJB 603A-2011 《有失效率等級(jí)的鋁電解電容器通用規(guī)范》

GJB 1433-1992 《瓷介微調(diào)可變電容器總規(guī)范》

GJB 1214A-2009 《含宇航級(jí)金屬化塑料膜介質(zhì)密封固定電容器通用規(guī)范》

GJB 601B-2018 《熱敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 1782A-2015 《壓敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 264A-2011 《機(jī)械濾波器通用規(guī)范》

GJB 1511A-2012 《壓電陶瓷濾波器總規(guī)范》

GJB 2600A-2009 《聲表面波器件通用規(guī)范》

GJB 1518A-2015 《射頻干擾濾波器總規(guī)范》

GJB 1508-199 《石英晶體濾波器總規(guī)范》

GJB 5850-2006 《小型熔斷器通用規(guī)范》

GJB 734A-2002 《旋轉(zhuǎn)開關(guān)通用規(guī)范》

GJB1512A-2011 《按鈕開關(guān)通用規(guī)范》

GJB 809B-2013 《微動(dòng)開關(guān)通用規(guī)范》

GJB 1217A-2009 《電連接器試驗(yàn)方電電連接器試驗(yàn)方法連接》

GJB 2446A-2011 《外殼定位微矩形電連接器通用規(guī)范》

GJB 1438A-2006 《印制電路連接器及其附件通用規(guī)范》

GJB 681A-2002 《射頻同軸連接器通用規(guī)范》

GJB 599B-2012 《耐環(huán)境快速分離高密度小圓形電連接器總規(guī)范》

GJB 65B-1999 《有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

GJB 1517A-2011 《恒溫繼電器通用規(guī)范》

GJB 1513A-2009 《混合和固體延時(shí)繼電器通用規(guī)范》

GJB 1461A-2017 《含可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2449-1995 《塑封通用電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2888A-2011 《有失效率等級(jí)的功率型電磁繼電器通用規(guī)范》

GJB 1042A-2002 《電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》

GJB 1864A-2011 《射頻固定和可變片式電感器通用規(guī)范》

GJB 5025-2003 《射頻固定和可變電感器通用規(guī)范》

GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》

GB/T17940-2000 第Ⅱ篇 《半導(dǎo)體器件 集成電路第 3 部分：模擬集成電路》

GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路》

SJ20646-1997 《混合集成電路 DC/DC 變換器測(cè)試方法》

GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇》

GB/T14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T14030-92 《半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 7 部分：雙極型晶體管》

GB/T4586-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件 第 8 部分 場(chǎng)效應(yīng)晶體管》

GB/T4023-2015 《半導(dǎo)體分立器件第 2 部分：整流二極管》

GB/T6571-1995 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件分立器件第 3 部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管》

SJ/T2215-2015 《半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法》

GJB 675A-2002 《有和無(wú)可靠性指標(biāo)的模制射頻固定電感器通用規(guī)范》

SJ/T 10805-2018 《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法》

GJB1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

等

元器件二次篩選試驗(yàn)項(xiàng)目

電性能相關(guān)試驗(yàn)：常溫測(cè)試、高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、高溫老煉、高溫反偏、內(nèi)部潮濕；

氣候環(huán)境試驗(yàn)：溫度循環(huán)、溫度沖擊、熱沖擊、穩(wěn)定性烘焙、穩(wěn)態(tài)壽命、穩(wěn)態(tài)工作壽命；

機(jī)械應(yīng)力試驗(yàn)：恒定加速度、掃頻振動(dòng)、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)、嚙合力和分離力、接觸件嵌入力和卸出力、接觸件插入力和分離力；

封裝相關(guān)試驗(yàn)：外觀檢查、密封性檢-粗檢、密封性檢查-細(xì)檢、X-ray。

元器件二次篩選電子元器件類型

- 電子元件：電阻、電阻網(wǎng)絡(luò)、電容、電感、磁珠、繼電器等；

- 半導(dǎo)體分立器件：二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、整流橋、可控硅、晶體振蕩器、光電耦合器等；

- 中小規(guī)模數(shù)字電路：4000系列、54系列、74系列；

- 儲(chǔ)存器系列：EPROM、 EEPROM、SRAM、DRAM、FLASH等；

- 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器：A/D、D/A,12位以下；

- PLD：GAL16、GAL22等；

- 混合集成電路：DC/DC；

- 模擬器件：運(yùn)算放大器、電壓比較器、跟隨器、來(lái)樣保持器等；

- 電源類：線性穩(wěn)壓器、電源監(jiān)控器、電源管理、PWM控制器等；

- 模擬開關(guān)與多路復(fù)用器

- 總線接口類：RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN等；

- 射頻器件：T/R組件、MHIC模塊等；

- 電連接器。