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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-03-27 瀏覽數(shù)量：
電子元器件二次篩選是現(xiàn)行軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性管控的重要環(huán)節(jié)，是檢驗(yàn)元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段。優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證是擁有CNAS、DILAC實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)的第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，可提供集成電路、分立器件以及電阻電容電感元件等各類電子元器件二次篩選檢測(cè)服務(wù)，接下來為大家介紹電磁繼電器二次篩選項(xiàng)目。
電磁繼電器的篩選項(xiàng)目和應(yīng)力如下：
1. 外觀和機(jī)械檢查；
2. 掃頻振動(dòng)(按GJB 65B中4.8.11.1條規(guī)定的方法)；
3. 隨機(jī)振動(dòng)(按GJB 65B中4.8.11.2條或GJB 360A方法214規(guī)定的方法)；
4. 微粒碰撞噪聲檢測(cè)(PIND)(按GJB 65B中4.8.23條或GJB 360A方法217規(guī)定的方法)；
5. 內(nèi)部潮濕(按GJB 65B中4.8.3.1條規(guī)定的方法)；
6. 高溫運(yùn)行(按GJB 65B中4.8.3.2a條規(guī)定的方法)；
7. 低溫運(yùn)行(按GJB 65B中4.8.3.2b條規(guī)定的方法)；
8. 參數(shù)測(cè)試(絕緣電阻、介質(zhì)耐電壓、觸點(diǎn)接觸電阻、動(dòng)作、保持和釋放電壓值、線圈
電阻、動(dòng)作和釋放時(shí)間)(按GJB 65B規(guī)定的方法測(cè)試)；
9. 密封試驗(yàn)(適用用于密封繼電器，試驗(yàn)方法： GJB 65B中4.8.5條規(guī)定的方法)。
1. 收樣、標(biāo)識(shí)、入庫(kù)、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測(cè)試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應(yīng)力測(cè)試：振動(dòng)、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測(cè)試
6. 打點(diǎn)、封裝、出庫(kù)。
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