×

三極管元器件篩選機構(gòu)

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方元器件二次篩選機構(gòu)，實驗室具備GJB128A-1997標準CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供三極管元器件篩選服務，并可出具權(quán)威認可的第三方元器件二次篩選檢測報告。

檢測依據(jù)

GJB 128A-1997 《半導體分立元器件試驗方法》

三極管元器件篩選程序

外觀初查─→常溫初測─→高溫貯存─→溫度循環(huán)─→常溫測試─→功率老煉─→常溫測試─→高溫反偏（PNP硅管做）─→常溫測試─→高溫測試（有要求時）─→低溫測試（有要求時）─→常溫復測─→外觀復查─→打印標記。

三極管元器件篩選項目及要求

1. 外觀初查

目視或用5～10倍放大鏡檢查下列項目： 

a) 管腳不應有機械損傷、斷裂、銹蝕等現(xiàn)象； 

b) 管帽不應有變形、頸縮、嚴重掉漆、開裂等現(xiàn)象； 

c) 產(chǎn)品型號、出廠日期等標志應清楚、正確。

2. 常溫初測

在室溫下，按產(chǎn)品規(guī)范或協(xié)議要求進行測試，電參數(shù)應符合規(guī)定。 

用圖示儀觀察輸出特性曲線及擊穿特性曲線，剔除曲線明顯不均勻及有軟擊穿、分段擊穿等異?，F(xiàn)象的三極管。

3. 高溫貯存

高溫貯存條件和時間如下表所示：

4. 常溫測試

篩選試驗結(jié)束后的常溫測試均要求在室溫下放置2h后進行。

5. 溫度循環(huán)

試驗方法按GJB 128A方法1051執(zhí)行，其中保持時間為30min，轉(zhuǎn)換時間小于1min。

溫度循環(huán)條件如下表所示：

6. 功率老煉

6.1 中小功率三極管

在常溫下老煉，老煉時間：24 h。

老煉功率一般取（1～1.2）PCM。

老煉功率中電流與電壓的分配原則如下： 

電壓Vce=K·V(br)ceo，其中K值如下表所示： 

電流 Ic=Pcm/Vce

6.2 大功率三極管

在常溫下老煉，老煉時間：12 h。

老煉功率一般取（0.7～1）PCM。

老煉電流：Ic=（1/2～1/3）ICM。

大、中、小功率三極管功率老煉時，應考慮老煉功率的選取不應使管芯溫度超過TjM。

7. 高溫反偏（PNP硅管做）

試驗方法按GJB 128A方法1039條件A執(zhí)行。在125℃±3℃溫度下，PNP硅管CB結(jié)加V(BR)CBO電壓的80％，保持24h。漏電流不超過標準值。

8.  高溫測試(有要求時)

測試溫度100℃或按照器件技術(shù)規(guī)范或技術(shù)協(xié)議。測試溫度下的保溫時間按照5.4執(zhí)行。

合格判據(jù)按照產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議執(zhí)行。

9.  低溫測試(有要求時)

測試溫度-55℃或按照器件技術(shù)規(guī)范或技術(shù)協(xié)議。測試溫度下的保溫時間按照5.4執(zhí)行。

合格判據(jù)按照產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議執(zhí)行。

10. 常溫復測

同2.。

11. 外觀復查

目視或用5～10倍放大鏡檢查下列項目： 

a) 管腳不應有機械損傷、斷裂、銹蝕等現(xiàn)象； 

b) 管帽不應有變形、頸縮、嚴重掉漆、開裂等現(xiàn)象； 

c) 產(chǎn)品型號、出廠日期等標志應清楚、正確。

12. 打印標記

凡經(jīng)篩選合格的三極管均按相關(guān)文件規(guī)定打印篩選標記。

我們的優(yōu)勢

1. 專家團隊

可靠性檢測專家、定制化服務、專業(yè)人員技術(shù)培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。

2. 專業(yè)設備

配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設備等。

3. 一站式方案服務

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。