×

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的一系列測(cè)試，以評(píng)估其在各種條件下的穩(wěn)定性和可靠性。優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，實(shí)驗(yàn)室具備電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性CNAS測(cè)試資質(zhì)和測(cè)試能力，可提供電子產(chǎn)品第三方可靠性測(cè)試服務(wù)，并可出具國家權(quán)威認(rèn)可的中英文檢測(cè)報(bào)告。

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試目的

1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；

2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；

3. 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；

4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；

5. 為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試主要包括以下幾種：

1. 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己嗽诓皇┘与姂?yīng)力的情況下，高溫存儲(chǔ)對(duì)產(chǎn)品的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài)，是一種不穩(wěn)定態(tài)，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過程，也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。

這種過渡一般情況下是物理化學(xué)變化，其速率遵循阿倫尼烏斯公式，隨溫度成指數(shù)增加。高溫應(yīng)力的目的是為了縮短這種變化的時(shí)間。所以該實(shí)驗(yàn)又可以視為一項(xiàng)穩(wěn)定產(chǎn)品性能的工藝。

2. 溫度循環(huán)試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對(duì)極端高溫和極端低溫環(huán)境的承受能力，是針對(duì)產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

溫度循環(huán)試驗(yàn)在氣體環(huán)境下進(jìn)行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時(shí)的溫度和時(shí)間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗(yàn)箱內(nèi)氣體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗(yàn)條件的重要因素。

3. 熱沖擊試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受溫度劇烈變化，即承受大溫度變化速率的能力。試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的基本一致，但熱沖擊試驗(yàn)的條件比溫度循環(huán)試驗(yàn)要嚴(yán)酷得多。

4. 低氣壓試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品對(duì)低氣壓工作環(huán)境（如高空工作環(huán)境）的適應(yīng)能力。當(dāng)氣壓減小時(shí)空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度會(huì)減弱；易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離；氣壓減小使散熱條件變差，會(huì)使元器件溫度上升。這些因素都會(huì)使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能，有時(shí)會(huì)產(chǎn)生永久性損傷。

5. 耐濕試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模阂允┘蛹铀賾?yīng)力的方法評(píng)定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，是針對(duì)典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計(jì)的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗(yàn)也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會(huì)使絕緣材料電阻發(fā)生變化，使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/p>

6. 鹽霧試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模阂约铀俚姆椒ㄔu(píng)定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力，是針對(duì)熱帶海邊或海上氣候環(huán)境設(shè)計(jì)的．表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧、潮濕和炎熱條件下外露部分會(huì)產(chǎn)生腐蝕。

電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試報(bào)告辦理流程

1. 前期咨詢：提供需委托檢測(cè)項(xiàng)目、測(cè)試條件或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

2. 評(píng)估報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測(cè)要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評(píng)估報(bào)價(jià)；

3. 填寫委托書：向優(yōu)科發(fā)起檢測(cè)申請(qǐng)，填寫委托書（會(huì)有專人指導(dǎo)填寫）；

4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報(bào)價(jià)支付費(fèi)用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；

5. 安排檢測(cè)：按委托要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)；

6. 出具報(bào)告：依據(jù)檢測(cè)數(shù)據(jù)出具報(bào)告，將報(bào)告、發(fā)票及樣品回寄客戶。