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薄膜固定電阻器GJB244A二篩機構(gòu)

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2023-10-23 瀏覽數(shù)量:

薄膜固定電阻器GJB244A二篩機構(gòu)

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu),實驗室具備GJB 244A-2001標準CNAS檢測資質(zhì)及其他軍工篩選檢測資質(zhì),可提供薄膜固定電阻器GJB244A二篩服務(wù)。


薄膜固定電阻器GJB244A二篩機構(gòu).jpg


薄膜固定電阻器二篩依據(jù)

GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級的薄膜固定電阻器總規(guī)范》


薄膜固定電阻器二篩主要項目及方法

1. 外觀及機械檢查

10 倍放大鏡或顯微鏡檢查標志及外部結(jié)構(gòu)質(zhì)量,應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定。


2. 溫度沖擊

電阻器溫度沖擊的高、低溫按下表規(guī)定,高溫-室溫-低溫為一次循環(huán)。

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3. 過載

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4. 功率老練

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5. 密封試驗

適用于氣密性電阻器


元器件篩選應(yīng)遵循原則

1. 對元器件具有破壞性的試驗或檢驗不得列為篩選項目;

2. 篩選所加的應(yīng)力(電應(yīng)力、機械應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力等)不得超過產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定的元器件額定應(yīng)力。


元器件二次篩選流程

1. 收樣、標識、入庫、入系統(tǒng);

2. 目檢;

3. 電參數(shù)測試:按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試;

4. 老練篩選:高溫、反偏、功率等;

5. 環(huán)境應(yīng)力測試:振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán);

6. 密封性檢查:粗細檢漏、PIND;

7. 三溫電參數(shù)測試:按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試

6. 打點、封裝、出庫。


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