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光電器件AEC-Q102認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目選擇指南

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-07-05 瀏覽數(shù)量:

AEC-Q102認(rèn)證是針對(duì)光電器件(如LED、激光器等)的一項(xiàng)汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),用于確保這些器件在嚴(yán)苛的汽車環(huán)境中能夠穩(wěn)定、可靠地運(yùn)行。AEC-Q102的測(cè)試項(xiàng)目非常全面,覆蓋了加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(包括偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存壽命等)、電氣特性確認(rèn)測(cè)試、密封性測(cè)試等多個(gè)方面,旨在確保元器件在各種環(huán)境條件下都能保持優(yōu)異的性能和可靠性。

AEC-Q102-Rev A 2020標(biāo)準(zhǔn)中共有35項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目,但并非所有測(cè)試項(xiàng)目都適用于所有類型的產(chǎn)品。不同類型、不同封裝形式的產(chǎn)品有對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目。在不考慮其他失效形式和終端客戶的要求,以下是對(duì)光電器件AEC-Q102認(rèn)證如何選擇測(cè)試項(xiàng)目的詳細(xì)介紹。


分立光電半導(dǎo)體AEC-Q102認(rèn)證.jpg


預(yù)處理(Pre-conditioning)

項(xiàng)目編號(hào):A1

- 項(xiàng)目名稱縮寫:PC

- 適用產(chǎn)品:SMD器件

預(yù)處理是對(duì)SMD器件進(jìn)行初步處理,以確保其在后續(xù)的環(huán)境和應(yīng)力測(cè)試中能夠反映出真實(shí)的使用情況。


高溫高濕工作壽命(Wet High Temperature Operating Life)

項(xiàng)目編號(hào):A2a & A2b

- 項(xiàng)目名稱縮寫:WHTOL 1, WHTOL 2

- 適用產(chǎn)品:LED和激光器件

此測(cè)試項(xiàng)目用于評(píng)估光電器件在高溫高濕環(huán)境下的工作壽命,確保其在極端環(huán)境下的可靠性。


高溫高濕高反向偏壓(High Humidity High Temperature Reverse Bias)

項(xiàng)目編號(hào):A2c

- 項(xiàng)目名稱縮寫:H3TRB

- 適用產(chǎn)品:光電二極管芯片電晶體管

該測(cè)試項(xiàng)目主要用于評(píng)估光電二極管和電晶體管在高溫高濕環(huán)境下反向偏壓條件下的可靠性。


功率溫度循環(huán)(Power Temperature Cycling)

項(xiàng)目編號(hào):A3a

- 項(xiàng)目名稱縮寫:PTC

- 適用產(chǎn)品:LED和激光器件

此測(cè)試項(xiàng)目通過模擬光電器件在實(shí)際使用中的功率和溫度循環(huán)變化,評(píng)估其耐久性。


間隙工作壽命(Intermittent Operational Life)

項(xiàng)目編號(hào):A3b

- 項(xiàng)目名稱縮寫:IOL

- 適用產(chǎn)品:光電二極管和光電晶體管

間隙工作壽命測(cè)試用于評(píng)估光電二極管和光電晶體管在斷續(xù)工作狀態(tài)下的可靠性。


溫度循環(huán)(Temperature Cycling)

項(xiàng)目編號(hào):A4

- 項(xiàng)目名稱縮寫:TC

- 適用產(chǎn)品:無特殊產(chǎn)品類型要求,對(duì)TC后進(jìn)行H2S測(cè)試

溫度循環(huán)測(cè)試通過多次加熱和冷卻循環(huán),評(píng)估光電器件在溫度變化下的性能穩(wěn)定性。


高溫工作壽命(High Temperature Operating Life)

項(xiàng)目編號(hào):B1a & B1b

- 項(xiàng)目名稱縮寫:HTOL1, HTOL2

- 適用產(chǎn)品:LED和激光器件

此測(cè)試項(xiàng)目用于評(píng)估光電器件在高溫環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間工作的可靠性。


高溫反向偏壓(High Temperature Reverse Bias)

項(xiàng)目編號(hào):B1c

- 項(xiàng)目名稱縮寫:HTRB

- 適用產(chǎn)品:光電二極管和光電晶體管

該測(cè)試項(xiàng)目用于評(píng)估光電二極管和光電晶體管在高溫環(huán)境下反向偏壓條件下的可靠性。


低溫工作壽命(Low Temperature Operating Life)

項(xiàng)目編號(hào):B2

- 項(xiàng)目名稱縮寫:LTOL

- 適用產(chǎn)品:激光器件

低溫工作壽命測(cè)試通過模擬光電器件在低溫環(huán)境下的工作狀態(tài),評(píng)估其可靠性。


脈沖壽命(Pulsed Life Test)

項(xiàng)目編號(hào):B3

- 項(xiàng)目名稱縮寫:PLT

- 適用產(chǎn)品:LED和激光器件

脈沖壽命測(cè)試通過多次脈沖電流的施加,評(píng)估光電器件在脈沖工作狀態(tài)下的可靠性。


破壞性物理分析(Destructive Physical Analysis)

項(xiàng)目編號(hào):C1

- 項(xiàng)目名稱縮寫:DPA

- 適用產(chǎn)品:所有需要進(jìn)行TC, PTC/IOL, HTOL, WHTOL/H3TRB, H2S, FMG測(cè)試的樣品

該測(cè)試項(xiàng)目通過對(duì)光電器件的破壞性分析,評(píng)估其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的可靠性。


引線鍵合(Wire Bond Pull)

項(xiàng)目編號(hào):C3

- 項(xiàng)目名稱縮寫:WBP

- 適用產(chǎn)品:有金線(焊線)封裝結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

引線鍵合測(cè)試用于評(píng)估光電器件的焊線牢固度,確保其在實(shí)際使用中不易斷裂。


引線剪切(Wire Bond Shear)

項(xiàng)目編號(hào):C4

- 項(xiàng)目名稱縮寫:WBS

- 適用產(chǎn)品:有金線(焊線)封裝結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

該測(cè)試項(xiàng)目用于評(píng)估光電器件焊線的剪切強(qiáng)度,確保其在使用過程中的可靠性。


電氣參數(shù)驗(yàn)證(Parametric Verification)

項(xiàng)目編號(hào):E2

- 項(xiàng)目名稱縮寫:PV

- 適用產(chǎn)品:無特殊產(chǎn)品類型要求

電氣參數(shù)驗(yàn)證測(cè)試通過對(duì)光電器件的電氣參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證,確保其符合設(shè)計(jì)要求。


人體靜電放電模型(Electrostatic Discharge Human Body Model)

項(xiàng)目編號(hào):E3

- 項(xiàng)目名稱縮寫:HBM

- 適用產(chǎn)品:無特殊產(chǎn)品類型要求

該測(cè)試項(xiàng)目模擬人體靜電放電對(duì)光電器件的影響,評(píng)估其抗靜電能力。


恒定加速度(Constant Acceleration)

項(xiàng)目編號(hào):G1

- 項(xiàng)目名稱縮寫:CA

- 適用產(chǎn)品:未洗滌部件(通常為鍵線組件未被剛性材料包覆或柔性材料包覆的產(chǎn)品)

恒定加速度測(cè)試通過施加恒定加速度,評(píng)估光電器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。


通過以上測(cè)試項(xiàng)目的選擇和評(píng)估,光電器件可以獲得AEC-Q102認(rèn)證,從而確保其在汽車等苛刻環(huán)境中的穩(wěn)定性和可靠性。

優(yōu)科汽?電?實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能?,可提供汽?電?元件AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q103、AEC-Q104、AEC-Q200認(rèn)證檢測(cè)服務(wù)。


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