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半導(dǎo)體集成電路GJB 597B-2012二次篩選機(jī)構(gòu)

文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-06-16 瀏覽數(shù)量:

半導(dǎo)體集成電路GJB 597B-2012二次篩選機(jī)構(gòu)

優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方元器件二次篩選機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備GJB 597B-2012標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供半導(dǎo)體集成電路GJB 597B-2012二次篩選服務(wù),并可出具權(quán)威認(rèn)可的第三方檢測(cè)報(bào)告。


電子元器件篩選-5.jpg


GJB 597B-2012標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

GJB 597B-2012標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路 (在不產(chǎn)生混淆時(shí),稱器件或產(chǎn)品) 生產(chǎn)和交付的一般要求,以及器件必須滿足的質(zhì)量和可靠性保證要求。GJB 597B-2012標(biāo)準(zhǔn)為器件規(guī)定了 B 級(jí)、BG 級(jí)和 S 級(jí)共三個(gè)產(chǎn)品質(zhì)量保證等級(jí)。GJB 597B-2012標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路,包括單片集成電路和多片集成電路。


半導(dǎo)體集成電路GJB 597B-2012二次篩選項(xiàng)目

1. 內(nèi)部目檢(封帽前);

2. 溫度循環(huán);

3. 恒定加速度;

4. 粒子碰撞噪聲檢測(cè);

5. 編序列號(hào);

6. 老煉前電測(cè)試;

7. 老煉;

8. 中間電測(cè)試;

9. 反偏老煉;

10. 中間電測(cè)試;

11. 允許不合格品率 (PDA);

12. 密封(細(xì)檢和粗檢);

13. 最終電測(cè)試;

14. X 射線照相;

15. 外部目檢;

16. 100%的非破壞性鍵合拉力試驗(yàn)。


公司外景.jpg


我們的優(yōu)勢(shì)

1. 專家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測(cè)專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測(cè)試系統(tǒng),老煉箱50余臺(tái)、各類環(huán)境箱體20臺(tái)套、機(jī)械性能與可靠性檢測(cè)設(shè)備30臺(tái)套、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)、模擬器件測(cè)試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測(cè)設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格,準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果,準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理,并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備,保證測(cè)試流程和測(cè)試精度,第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。


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