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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-11-13 瀏覽數(shù)量：
元器件二次篩選是為剔除早期失效的元器件而進(jìn)行的可靠性無損試驗(yàn)，為提高元器件的批可靠性，元器件使用方或其委托單位在承制方篩選的基礎(chǔ)上需要進(jìn)行二次篩選。
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備場(chǎng)效應(yīng)晶體管CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供場(chǎng)效應(yīng)晶體管二次篩選服務(wù)。
GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》
GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GB/T 4586-1994 《半導(dǎo)體器件 第 8 部分 場(chǎng)效應(yīng)晶體管》
1. 內(nèi)部目檢；
2. 溫度循環(huán)；
3. 恒定加速度；
4. PIND；
5. 編序列號(hào)；
6. 初始電參數(shù)測(cè)試；
7. 老練；
8. 終點(diǎn)電參數(shù)測(cè)試；
9. 計(jì)算變化量；
10. 計(jì)算PD；
11. PDA；
12. 密封試驗(yàn)（細(xì)檢漏、粗檢漏）；
13. X射線照相檢驗(yàn)；
14. 外觀檢查。
1. 柵源短路時(shí)柵極漏電流Igss
2. 漏極電流Id（on）
3. 漏-源短路漏極電流Idss
4. 漏-源擊穿電壓Bydss
5. 柵極閾值電壓Vgs （th）
6. 正向跨導(dǎo)ggs（Vgs）
7. 靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻Rds（on）
1. 收樣、標(biāo)識(shí)、入庫、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測(cè)試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應(yīng)力測(cè)試：振動(dòng)、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測(cè)試
6. 打點(diǎn)、封裝、出庫。
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