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發(fā)光二極管二次篩選機(jī)構(gòu)

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-01-02 瀏覽數(shù)量:

發(fā)光二極管二次篩選機(jī)構(gòu)

優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備發(fā)光二極管GJB標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供發(fā)光二極管二次篩選、失效分析及環(huán)境可靠性驗(yàn)證服務(wù)。


發(fā)光二極管二次篩選機(jī)構(gòu)-2.jpg


發(fā)光二極管二次篩選依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》


發(fā)光二極管二次篩選項(xiàng)目

1. 內(nèi)部目檢;

2. 常溫電參數(shù)測(cè)試;

3. 高溫貯存;

4. 溫度循環(huán);

5. 恒定加速度(適用于空封器件);

6. PIND(適用于空封器件);

7. 編序列號(hào);

8. 初始電參數(shù)測(cè)試;

9. 中間電參數(shù)測(cè)試;

10. PDA;

11. 功率老練;

12. 老練后電參數(shù)測(cè)試(計(jì)算△值和PD);

13. 高溫電參數(shù)測(cè)試;

14. 低溫電參數(shù)測(cè)試;

15. 密封試驗(yàn)(細(xì)檢漏、粗檢漏);

16. 終點(diǎn)電參數(shù)測(cè)試;

19. 外觀檢查。


發(fā)光二極管電參數(shù)測(cè)試項(xiàng)目

1. 反向漏電流 IR;

2. 反向擊穿電壓 VR;

3. 正向壓降 VF;

4. 法向光強(qiáng)IV或輻射功率 Po。


我們的優(yōu)勢(shì)

1. 專家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測(cè)專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測(cè)試系統(tǒng),老煉箱50余臺(tái)、各類環(huán)境箱體20臺(tái)套、機(jī)械性能與可靠性檢測(cè)設(shè)備30臺(tái)套、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)、模擬器件測(cè)試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測(cè)設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格,準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果,準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理,并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備,保證測(cè)試流程和測(cè)試精度,第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。


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