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電子連接器可靠性測(cè)試哪些項(xiàng)目,測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是什么?

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2019-04-24 瀏覽數(shù)量:

電子連接器可靠性測(cè)試

電子連接器可靠性測(cè)試
電子連接器和電源是要連接一起的,使用的話是要做可靠性測(cè)試的,電子連接器進(jìn)行可靠性測(cè)試是為了確保使用者的安全,保證使用的時(shí)候不會(huì)出現(xiàn)一些情況,那么對(duì)于電子連接器可靠性測(cè)試你了解多少呢,下面廣東優(yōu)科檢測(cè)簡(jiǎn)單介紹一下!

電子連接器可靠性測(cè)試部分
低溫:電子連接器低溫試驗(yàn)EIA/ECA-364-59A-2006
高溫:電子連接器高溫壽命EIA-364-17B-1999、高溫儲(chǔ)存壽命JESD 22-A103D-2010
高溫:高溫偏壓工作壽命JESD 22-A108D-2010
機(jī)械沖擊:機(jī)械沖擊JESD 22-B104C-2004、零部件機(jī)械沖擊JESD 22-B110A-2004
跌落:電子連接器跌落沖擊試驗(yàn)EIA-364-42B-1999
振動(dòng):連接器的振動(dòng)試驗(yàn)EIA-364-28E-2006、變頻振動(dòng)JESD 22-B103-B-2002
濕熱:連接器的耐濕試驗(yàn)EIA-364-31B-2000、穩(wěn)態(tài)濕熱偏壓壽命測(cè)試JESD 22-A101C-2009、THB循環(huán)壽命試驗(yàn)JESD 22-A100C-2007
鹽霧試驗(yàn):連接器的鹽霧腐蝕試驗(yàn)EIA-364-26B-1999、鹽霧 JESD 22-A107B-2004
熱沖擊:連接器的熱沖擊試驗(yàn)EIA-364-32D-2006、溫度循環(huán)JESD 22-A104D-2009、熱沖擊JESD 22-A106B-2004

電子連接器性能測(cè)試部分:
插拔力測(cè)試    參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-13
耐久性測(cè)試    參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-09
絕緣電阻測(cè)試   參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-21
耐電壓測(cè)試    參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-20
接觸電阻測(cè)試   參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-06/EIA-364-23

電子連接器的可靠性測(cè)試我司是可以提供辦理的,我們可以辦理高低溫測(cè)試,溫度沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、恒溫恒濕測(cè)試或溫度循環(huán)測(cè)試、老化測(cè)試、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)等等可靠性測(cè)試的項(xiàng)目,以上就是小編介紹的電子連接器可靠性測(cè)試的項(xiàng)目和標(biāo)準(zhǔn),如果您有產(chǎn)品辦理可靠性測(cè)試,可以咨詢我們哦!


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