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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-10-20 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q系列認(rèn)證是公認(rèn)的車規(guī)元器件的通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，元器件企業(yè)想要進(jìn)入汽車電子領(lǐng)域，進(jìn)入汽車電子零部件供應(yīng)鏈，AEC-Q系列是必須獲得的認(rèn)證之一。
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方車規(guī)級(jí)元器件認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測(cè)試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供IC芯片、半導(dǎo)體分立器件、光電器件、等汽車用電子元器件AEC-Q車規(guī)認(rèn)證服務(wù)。
AEC-Q100（集成電路測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：集成電路、IC；
AEC-Q101（分立器件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：BJT、FET、IGBT、PIN、二極管、MOSFET、變?nèi)莨堋R納管；
AEC-Q102（光電器件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：LED、激光器、光電二極管、光敏三極管、光電耦合器；
AEC-Q103（壓力傳感器測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：MEMS壓力傳感器、MEMS麥克風(fēng)器件；
AEC-Q104（多芯片組件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：多芯片組件MCM；
AEC-Q200（被動(dòng)元器件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）：鉭電容和鈮電容器、保險(xiǎn)絲、電阻、電磁器件（電感／變壓器）、網(wǎng)絡(luò)（R-C／C／R）、薄膜電容器、熱敏電阻器、可調(diào)電容器／電阻器、壓敏電阻、聚合自恢復(fù)保險(xiǎn)絲、石英晶體、陶瓷諧振器、鐵氧體 EMI 干擾抑制器／過(guò)濾器、超級(jí)電容器、鋁電解電容器、陶瓷電容器。
1. 每個(gè)環(huán)境應(yīng)力測(cè)試項(xiàng)目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，特別要求除外。
2. 1000小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試會(huì)額外增加250，500，1000小時(shí)幾個(gè)階段。
3. 一般電參數(shù)測(cè)試會(huì)是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進(jìn)行，應(yīng)力測(cè)試完成后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。
4. 電參數(shù)測(cè)試需在客戶規(guī)格書(shū)中宣稱的低溫，室溫，高溫中進(jìn)行測(cè)試。
5. AEC-Q測(cè)試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書(shū)進(jìn)行判定，所有測(cè)試只接受零失敗。
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