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AEC-Q200-002是無(wú)源器件人體模式(HBM)靜電放電(ESD)的測(cè)試方法，無(wú)源器件AEC-Q200認(rèn)證需要進(jìn)行ESD靜電放電測(cè)試，優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)全項(xiàng)測(cè)試能力，可提供AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試服務(wù)。

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試對(duì)象

鉭電容和陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、電感/變壓器、R-C/C/R、電阻、熱敏電阻、可調(diào)電容、可調(diào)電阻、壓敏電阻、陶瓷晶振、EMI濾波器、聚合物自恢復(fù)保險(xiǎn)絲。

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試樣品要求

每一個(gè)樣品組由15個(gè)器件組成。

每個(gè)樣品組在同一電壓等級(jí)下的應(yīng)力測(cè)試，使用所有引腳和/或端子組合。每個(gè)電壓等級(jí)的應(yīng)力測(cè)試，建議使用新樣品組。如果同一個(gè)樣品組中的所有器件在經(jīng)過(guò)指定等級(jí)的電壓后均能符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求，那么該樣品組允許使用于下一個(gè)應(yīng)力等級(jí)。

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試項(xiàng)目

Direct Contact Discharge: 直接接觸放電

Air Discharge: 空氣放電

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試失效標(biāo)準(zhǔn)

如果在受到靜電放電脈沖影響后，器件如不能通過(guò)以下任一標(biāo)準(zhǔn)，器件都將被認(rèn)為失效：

1. 器件超出允許的變化值。

在適用的用戶器件規(guī)格中應(yīng)規(guī)定詳細(xì)的參數(shù)及允許的變化值。 在初始參數(shù)測(cè)試中， 應(yīng)為每一個(gè)器件建立一個(gè)數(shù)據(jù)記錄，列出相應(yīng)的參數(shù)測(cè)量值。此數(shù)據(jù)記錄將被拿來(lái)與最終的電氣測(cè)試驗(yàn)證中測(cè)試中測(cè)量出來(lái)的參數(shù)進(jìn)行比較，以確定變化值。器件超過(guò)允許的變化值將定義為失效。

2. 器件不再符合用戶器件規(guī)格的要求。

應(yīng)根據(jù)適用的用戶器件規(guī)格進(jìn)行完整的參數(shù)測(cè)試（初始及最終電氣驗(yàn)證）。

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

只有所有試驗(yàn)器件通過(guò)了某個(gè)電壓等級(jí)，才可判定該器件通過(guò)了該電壓等級(jí)。所有使用的樣品都必須符合規(guī)定的測(cè)量要求和規(guī)定的失效標(biāo)準(zhǔn)要求。使用表2中定義的分類(lèi)等級(jí)，根據(jù)靜電放電測(cè)試過(guò)程中器件能夠通過(guò)的最高電壓等級(jí)進(jìn)行分類(lèi)。供應(yīng)商應(yīng)對(duì)每個(gè)器件的靜電放電耐壓性能進(jìn)行定義。

AEC-Q200-002 ESD靜電放電測(cè)試報(bào)告辦理流程

1. 前期咨詢：提供需委托檢測(cè)項(xiàng)目、測(cè)試條件或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

2. 評(píng)估報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測(cè)要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評(píng)估報(bào)價(jià)；

3. 填寫(xiě)委托書(shū)：向優(yōu)科發(fā)起檢測(cè)申請(qǐng)，填寫(xiě)委托書(shū)（會(huì)有專人指導(dǎo)填寫(xiě)）；

4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報(bào)價(jià)支付費(fèi)用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；

5. 安排檢測(cè)：按委托要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)；

6. 出具報(bào)告：依據(jù)檢測(cè)數(shù)據(jù)出具報(bào)告，將報(bào)告、發(fā)票及樣品回寄客戶。